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湖南盈能电力科技有限公司，专业仪器仪表及自动化控制设备等。主要产品有：数字电测仪表，可编程智能仪表，显示型智能电量变送器，多功能电力仪表，网络电力仪表，微机电动机保护装置，凝露控制器、温湿度控制器、智能凝露温湿度控制器、关状态指示仪、关柜智能操控装置、电流互感器过电压保护器、断路器分合闸线圈保护装置、DJR铝合金加热器、EKT柜内空气调节器、GSN/DXN-T/Q高压带电显示、干式（油式）变压器温度控制仪、智能除湿装置等。
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SN65HVD251收发器支持5kbps的波特率，同时电磁辐射较TJA1040T的更小，并且三者保持管脚兼容，区别在于SN65HVD251的差分电压幅度较大。MC33901收发器支持5kbps波特率，同样具有电磁辐射较小的特点，在各种波特率下均无出现严重的过冲现象，但该芯片的使用必须将5引脚连接到一起，替换原来芯片时，需更改PCB电路设计。表1四种收发器对比注：这里只给出实测结果，详细方参数对比见收发器对比文档。
RS485是一种非常常用的差分通信总线，传输距离较远，抗干扰性也很好。但是对于通讯过程中的偶然故障，如何才能实现长达几小时，甚至是几天的通信过程监控呢？测试需求：低成本长期监控RS485总线通信过程。测试难点：RS485本身是差分总线，需要使用差分探头才能准确捕获信号，但业内很少有逻辑分析仪的差分探头，而且价值非常昂贵。测试步骤：先用示波器配合普通探头看一下波形，如。图1示波器配合普通探头捕获的波形我们可以清楚的看到在通讯协议信号上叠加了非常大的共模干扰。
光标测量由于是人为手动测量，所以会引入一定的人为误差。但是相对于噪声大的信号来说，光标测量可以人为的去忽略掉这部分噪声，更能把握波形重点。自动测量，当示波器正确捕获波形后，示波器可以对波形参数进行自动测量。自动测量需要参考点，一般称为Vtop（顶部值）和Vbase（底部值），参考点的测量采用幅度统计方法。示波器的工作过程是对捕获波形进行的幅度分析，先确定值Max和值Min，然后对电压上的40%和电压下的40%进行分析，然后进行累积概率统计，出现概率的值为Vtop和Vbase。
在带宽500MHz以下的示波器，一般标配是1倍衰减或10倍衰减的无源探头，某些探头的衰减比可手动选择。不同衰减比的探头在带宽、输入电阻、输入电容上面都有差异：图2ZP1025SA1倍、10倍衰减时的参数差异可见探头的输入电容，比晶体手册的负载电容要大。探头的介入，必定大大影响到原已参数优化好的电路，从而严重影响晶体电路的起振。两害相权取其轻，测量无源晶振时应优先选用10倍衰减探头。若10倍衰减探头的寄生参数还是过大，可以考虑选用有源高压差分探头，其负载参数优化得非常小，如Lecroy的ZP1000探头，输入阻抗可达0.9p1M欧姆。
如下图所示，使用隔离收发器后，可以有效防止形成地环路，总线参考地可跟随共模电压的波动而波动，共模电压全部由隔离带承受，共模电压对总线信号变得不再可见，从而保证总线稳定可靠地通信。CAN总线上建议使用磁隔离技术。磁隔离技术可靠性较高，磁耦消除了与光耦合器相关的不确定的电流传送比率、非线性传送特性以及随时间漂移和随温度漂移问题；磁耦均带有25KV/us的瞬态共模能力，且能够在电压差峰值560V的环境下正常工作。
LED日光灯电源发热到一定程度会导致烧坏，关于这个问题，也见到过有人在行业论坛发过贴讨论过。本文将从芯片发热、功率管发热、工作频率降频、电感或者变压器的选择、LED电流大小等方面讨论LED日光灯电源发热烧坏MOS管技术。芯片发热本次内容主要针对内置电源调制器的高压驱动芯片。如芯片消耗的电流为2mA，300V的电压加在芯片上面，芯片的功耗为0.6W，当然会引起芯片的发热。驱动芯片的电流来自于驱动功率MOS管的消耗，简单的计算公式为I=cvf（考虑充电的电阻效益，实际I=2cvf，其中c为功率MOS管的cgs电容，v为功率管导通时的gate电压，所以为了降低芯片的功耗，必须想法降低v和f.如果v和f不能改变，那么请想法将芯片的功耗分到芯片外的器件，注意不要引入额外的功耗。
测量滞后越大，热电偶波动的振幅就越小，与实际炉温的差别也就越大。当用时间常数大的热电偶测温或控温时，仪表显示的温度虽然波动很小，但实际炉温的波动可能很大。为了准确的测量温度，应当选择时间常数小的热电偶。时间常数与传热系数成反比，与热电偶热端的直径、材料的密度及比热成正比，如要减小时间常数，除增加传热系数以外， 有效的法是尽量减小热端的尺寸。使用中，通常采用导热性能好的材料，管壁薄、内径小的保护套管。
